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離子遷移測試裝置(CAF)

簡要描述:ECM-100離子遷移測試裝置(CAF)是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓( BIAS VOLTAGE ), 經(jīng)過長時(shí)間的測試(1 ~1000 小時(shí))并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生( ION MIGRATION )。

  • 更新時(shí)間:2024-10-12
  • 訪  問  量:6532
  • 廠商性質(zhì):代理商
  • 產(chǎn)品型號:ECM-100
品牌其他品牌產(chǎn)地進(jìn)口
加工定制

離子遷移測試裝置(CAF)(Ion Migration Test Device)用于測試電子產(chǎn)品中的材料是否存在離子遷移現(xiàn)象。其原理是在加速電場的作用下,使樣品中的離子遷移到對面的電極上,從而檢測出樣品中是否存在離子遷移。

通常該裝置由兩個(gè)電極、電源、電壓控制器和采樣器等部分組成。樣品被放置在兩個(gè)電極之間,然后施加電場并記錄電流隨時(shí)間的變化情況。如果電流隨時(shí)間逐漸增加,則說明樣品中可能存在離子遷移現(xiàn)象。

離子遷移測試裝置(CAF)主要用于評估電子產(chǎn)品中使用的材料是否能夠滿足相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)和法規(guī)的要求,以確保產(chǎn)品的可靠性和耐久性。

ECM-100離子遷移測試裝置是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓( BIAS VOLTAGE ), 經(jīng)過長時(shí)間的測試(1 ~1000 小時(shí))并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生( ION MIGRATION )。

ECM-100離子遷移測試裝置產(chǎn)品優(yōu)勢

簡單/便利

△采用驅(qū)動計(jì)測,測試時(shí)焊接工序大幅減少。

△軟件設(shè)計(jì)簡單明了,能夠非常直觀得操作。

△配有過程中的記錄、報(bào)告相關(guān)的報(bào)表功能。

△測試中,設(shè)備可以單獨(dú)運(yùn)行,電腦電源切斷也不受影響。

高性能&高機(jī)能

△因?yàn)槊總€(gè)通道都單獨(dú)配有電壓/計(jì)測電路,可以做到16ms的計(jì)測間隔。

→遷移現(xiàn)象的檢測能力更高,對產(chǎn)品品質(zhì)把控更精準(zhǔn)。

△一臺電腦可以增設(shè)400通道。

△每個(gè)通道可以設(shè)定不同的電壓。

可靠性更高&操作更簡潔

△具有自身診斷機(jī)能,把異常計(jì)測防范于未然。

△配有CF卡,以防設(shè)備故障數(shù)據(jù)丟失。

△每個(gè)單元獨(dú)立,其中一個(gè)單元損壞,可以單獨(dú)拆卸維修,而不影響其他通道使用。

△標(biāo)準(zhǔn)配置也可以接入1~300V的電壓范圍。

用途

PCB板、焊接、樹脂、導(dǎo)電性粘著劑、絕緣材料等電遷移測試。

△作為高性能/多通道絕緣電阻測試裝置,可以在多領(lǐng)域利用。

實(shí)例

△測試難度大的高阻值也能除去干擾,清晰得進(jìn)行測試。

16msec的高速抽樣處理,不會漏掉任何一個(gè)數(shù)據(jù)。

△電容器等絕緣電阻的試驗(yàn)也非常合適。

離子遷移測試裝置

離子遷移測試裝置(CAF)

離子遷移測試裝置(CAF)

離子遷移測試裝置(CAF)

離子遷移測試裝置(CAF)

離子遷移測試裝置(CAF)

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