ECMr-1000-n/ECMr-1000-nJ-RAS ECMr離子遷移試驗裝置
J-RAS ECMr離子遷移試驗裝置,在高溫高濕條件下,對電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測試電阻值,也能夠進行高效率的絕緣可靠性評估。
離子遷移實驗裝置 絕緣可靠性評估,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓 , 經過長時間的測試(1 ~1000 小時)并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生 , 并記錄電阻值變化狀況,故又叫做 CAF 試驗,絕緣阻力電阻試驗,或者是 OPEN/SHO
更新時間:2024-10-14 訪問量:349 型號:ECMr-1000-n/ECMr-1000-n
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