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看完本篇你就知道CAF測試是如何進行的了

  • 發(fā)布日期:2022-09-23      瀏覽次數(shù):1024
    •   離子遷移試驗裝置CAF測試是評價電子產(chǎn)品或元件的絕緣可靠性的一種測試方法,將樣品置于高溫高濕度的環(huán)境中,并在相鄰的兩個絕緣網(wǎng)絡(luò)之間施加一定的直流電壓(偏置電壓),在長時間的測試條件下,檢測兩個網(wǎng)絡(luò)之間是否有絕緣失效。

      離子遷移試驗裝置CAF測試

      離子遷移試驗裝置CAF測試

       
        實踐證明,將PCB放置于高溫高濕的環(huán)境試驗箱中,并在線路板上焊接電纜線,施加偏置電壓,然后每隔一段時間,將PCB從環(huán)境試驗箱中取出,進行絕緣電阻測試,這種間斷式的測試方法,會漏過很多實際發(fā)生的離子遷移。
       
        一方面因為將PCB從環(huán)境試驗箱中取出,PCB會變得干燥,從而導致絕緣電阻的上升,另一方面,當PCB在高溫高濕的環(huán)境試驗箱中承受偏置電壓時,離子遷移可能隨時發(fā)生。
       
        有效的PCB離子遷移測試,需要將PCB放置于高溫高濕的環(huán)境試驗箱中,并在線路板上焊接電纜線,引出至環(huán)境試驗箱外的有關(guān)測試設(shè)備上,以在線路板上施加促進離子遷移發(fā)生的偏置電壓和進行絕緣電阻測試,同時能實時檢測PCB上的泄漏電流。
       
        基于測試需求的不斷提高,對測試精度與可靠性、穩(wěn)定性方面提出了更加苛刻的要求。特別是在CAF測試中,失效點非常難找,而在測試數(shù)據(jù)上,可能只有一個或兩個點的數(shù)據(jù),數(shù)據(jù)量不足以支撐失效分析驗證。因此可能會對失效原因分析及不便利,試驗過程也就反反復復,增加了工作量,確也不能提高分析結(jié)果的可靠性。
       
        系統(tǒng)主要應(yīng)用:
       
        1、離子遷移測試評估;
       
        2、絕緣電阻性能劣化測試評估;
       
        3、印制電路板、焊錫、焊劑、封裝樹膠等;
       
        4、GBA、DSP等微間距圖形IC封裝;
       
        5、電容器、連接器及其它電子器件及材料;
       
        6、絕緣材料吸濕特性測試評估。
       
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