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離子遷移現(xiàn)象的捕捉

  • 發(fā)布日期:2021-08-19      瀏覽次數(shù):2505
    • 什么是離子遷移現(xiàn)象?

      形成枝晶是電極間短路的現(xiàn)象。

      離子遷移現(xiàn)象的特征:

      會在良好的絕緣的狀態(tài)下突然發(fā)生。

      短路的瞬間,因?yàn)樽陨黼娏鞯哪芰浚ń苟鸁幔?,枝晶被燒損,然后恢復(fù)絕緣電阻。

      所以很容易變成瞬間的絕緣劣化現(xiàn)象。

       

      離子遷移的信賴性試驗(yàn)的作用:

      在某些領(lǐng)域是重大故障

      即便是瞬間的短路現(xiàn)象,在現(xiàn)在高速數(shù)字化處理電路中誘發(fā)錯誤動作,在某些情況,有發(fā)展成為重大故障的風(fēng)險。

       

      試驗(yàn)方法是否有效?

      現(xiàn)廣泛被使用的槽外計(jì)測,離子遷移現(xiàn)象是檢測不出的。所以,NG的測試樣品也直接被認(rèn)定OK了。

       

      市面上的遷移試驗(yàn)裝置是否都能進(jìn)行準(zhǔn)確檢測?

      離子遷移是瞬間現(xiàn)象。即便是持續(xù)的監(jiān)視試驗(yàn)裝置,通道掃描或數(shù)據(jù)處理需要一定時間,正確地捕捉現(xiàn)象進(jìn)行適當(dāng)?shù)奶幚砭妥兊煤茈y。

       

      作為試驗(yàn)裝置的重要事項(xiàng)

      有能力準(zhǔn)確檢測出發(fā)生枝晶的瞬間短路現(xiàn)象。

      在多個樣品同時測試中,什么時候哪個樣品發(fā)生離子遷移,都可以檢測到。

      為了預(yù)防枝晶燒損,顯微鏡觀察時等的證據(jù)可以查看。

       

      高速抽樣處理

      J-RAS是業(yè)界最高速,16msec62.5S/s)。

      能夠進(jìn)行離子遷移的瞬間現(xiàn)象捕捉。

      不只是單一的短路現(xiàn)象事件,而是作為電阻值的連續(xù)數(shù)據(jù)被記錄。

       

      因離子遷移現(xiàn)象導(dǎo)致的電阻值變化如以下情況:

      1.jpg

      高速抽樣處理的情況:

      抽樣處理慢的情況:

      高速與普通處理,檢測結(jié)果有很大偏差:

      全部通道同時抽樣處理:

      J-RAS是所有通道的數(shù)據(jù)同時抽樣處理。

      假如離子遷移現(xiàn)象同時多個通道發(fā)生,數(shù)據(jù)也不會漏掉。更準(zhǔn)確高效得檢測樣品。

      多個通道同時發(fā)生離子遷移現(xiàn)象的情況如下:

      5.jpg

      單一AD掃描的話,與通道數(shù)成反比例,發(fā)生通道數(shù)越多越不準(zhǔn)確。

      每個通道都分別配有AD,可以同時監(jiān)測所有通道。

       

      J-RAS的模擬電路能夠防止枝晶燒損

      設(shè)備配有電流限制電路,即便枝晶短路,也不會給樣品輸入超范圍的電力。

      高速16msec的抽樣處理,及時檢出電阻值低下,把模擬電路的偏壓輸出功率及時停止。(根據(jù)判定條件設(shè)定)

       

      高速、多通道同時抽樣,J-RAS能夠大量數(shù)據(jù)并行處理。

       

      簡而言之,J-RAS設(shè)備的高速、多通道并行處理,能夠更可靠的檢測出遷移現(xiàn)象。